光源顯示測量用戶報告

5：Mura

                                                        亮度截面（單一方向上的顯示器亮度分布）

不均勻亮度和色品都是由許多因素引起的，比如對比度、面積等。加上人眼視覺因素，對其定義就越發困難。

云紋標準

1. SEMU

雖然很難定義云紋，但是在2002年"SEMU"的定義已經標準化。其全稱為"SEMI Mura Unit（國際半導體設備與材料協會云紋單位）"，已由SEMI^※標準化為一種測量單位。它同時適用于液晶顯示器LCD和平板顯示器FPD。測量時需要一個二維色度計，而且對樣品亮度和云紋區域面積都要進行測量。

※

國際半導體設備與材料協會的簡稱，是一個包括世界主流半導體、平板顯示器和相關材料制造商的非營利性行業組織。

2. JEITA

日本電子信息技術產業協會（JEITA）在2000年發布的EIAJ ED-2810"有機發光顯示模塊測量方法"包含了測量亮度均勻性和白色色品均勻性的方法。但是，這些方法都是基于對H3×V3（9個點）顯示區域的亮度和色品測量值，所以測量這9個點以外的云紋時就不是很有效。

現有測量方法

目前沒有測量云紋的標準方法，但為獲得一定的客觀評價，最好是用二維色度計測量亮度，用CCD傳感器測量色品。實現上述功能的二維色度計需要具備下列功能和性能。

與人眼靈敏度相近的傳感器

通常，彩色CCD的靈敏度與人眼不同，要正確測量亮度和色品非常困難。

高分辨率CCD

例如當CCD的分辨率為200 × 200時，就無法捕捉小區域內的亮度變化。

每個CCD像素的靈敏度誤差要低

如果云紋發生在CCD像素的靈敏度以內，那么就無法準確測得亮度分布和色品分布。

測量設備

柯尼卡美能達銷售二維色彩亮度計CA-2000A，其分辨率為980x980，傳感器靈敏度與人眼相近，每個CCD像素的靈敏度誤差也達到最小。驅動軟件包含了突出云紋的功能。這項功能可獲得每個測量點周圍一定大小區域內的平均云紋，并將其用作平滑數據。它會以二維形式給出每個測量點數據和平滑數據的比值。所以，當樣品亮度均勻時，它會突出整個顯示區域。

A：亮度截面 B：A的移動平均值 C：A／B

測定結果例